根分岐部病変の診断や評価は デンタルXーP に見るように近遠心方向が主ですが、方向を変えて頬舌的に見るとガラリ変わってきます。
分岐部内部の骨欠損の形が重要と考えます。そこで上顎根分岐部病変3度を3パターンに分けてみました。F3-Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ さらにⅡ-m、Ⅱ-d(近心か遠心か),Ⅲ-B,Ⅲ-P(頬側か口蓋側か)
しかしこれを測るためのプローブですが、通常のプローブでは斜めにしか入れられず歯根内側のポケットは計測できません。そのため屈曲してコンタクトポイントを避けることができる FVプローブ(ファーケーションバーティカルプローブ)を考案しました。
課題はメモリのレーザーマーキングです。これを製品化してくれる会社はないものでしょうか?